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光学测树仪
作者：佚名 来源于：学习力教育中心
以光学元件为主要部件， 以测定树干上部直径为主要测定用途的间接测树工具。分光叉式、短基线视距仪式和轮尺式三大类。这三类光学测树仪又可彼此结合构成综合式仪器。光学测树仪需要安装放大光学系统;且由于林内光线阴暗、树冠枝叶密集， 使树干上部所能测定的高度受到限制， 为测定或标定所测上部直径的位置， 又必须具有测高器， 甚至视距装置。因而其结构较复杂， 体积较笨重。应用较多的有如下几种：
图1 DQL-1型测树罗盘仪
DQL-1型测树罗盘仪 具有带读数游标的全圆竖角度盘和12倍放大率、光路转折45°能呈正象、用以测径的分画板视距常数为100的弯管望远镜的罗盘仪。属于光叉式测 ......
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